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LISE - Entité équipement
Présentation
Analyse des propriétés de surfaces de matériaux(rayons X, électrons, ions, laser U.V., plasma R.F.)- détermination de la structure électronique et vibrationnelle des surfaces.
Contact
Rue de Bruxelles, 61,
5000
Namur
Tel: 081/725234
Fax:
081/724595
Mail:
Membres actuels
Responsable(s) |
|||
| Pierre LOUETTE | Directeur | 081/724589 | |
Personnel administratif ou technique |
|||
| Claudine COPETTE-ROUYER | Secrétaire | 081/724490 | |
Projets en cours
Produits et services disponibles
Appareillage
- Spectromètre AES MAC-2 (RIBER)
- Le spectromètre AES est utilisé pour la caratérisation de surfaces et d'interfaces. Résolution en énergie de 0,3 eV.
- Spectromètre AES Varian
- Le spectromètre AES est utilisé pour la caratérisation de surfaces et d'interfaces. Résolution en énergie de 0,3 eV. Diamètre du faisceau3 mm.
- Spectromètre FT-IR FTS 60A (Biorad)
- Le spectromètre FT-IR FTS 60A (Biorad)est utilisé pour la caratérisation de surfaces et interfaces.
- Spectromètre UV-Vis-NIR (CARX 500 Varian)
- Le spectromètre UV-Vis-NIR (CARX 500 Varian)est utilisé pour la caratérisation de surfaces et interfaces.
- Spectromètre XPS (ESCA) / SSX-100
- Le spectromètre XPS (ESCA) SSX-100 est utilisé pour la caratérisation de surfaces et d'interfaces. Résolution en énergie de 0,65 eV.
- Spectromètre XPS (ESCA) ESCA-300 (Scienta)
- Le spectromètre XPS (ESCA) ESCA-300 (Scienta) est utilisé pour la caratérisation de surfaces et d'interfaces. Résolution en énergie de 0,29 eV.
- Spectromètre XPS (ESCA) HP 5950A
- Le spectromètre XPS (ESCA) HP5950A est utilisé pour la caratérisation de surfaces et d'interfaces. Résolution en énergie de 0,6 eV.
- Spectromètre électronique à haute résolution HREELS SEDRA
- Le spectromètre électronique à haute résolution est utilisé pour la caratérisation de surfaces et d'interfaces. 1 meV FWHM
