]
]
]
]
Publication
Si2p core-level shifts at the CdTe/Si(100) interface
| Auteur(s) | Robert SPORKEN, Frédéric MALENGREAU, Jacques GHIJSEN, Roland CAUDANO, Siva SIVANANTHAN, Jean-Pierre FAURIE, Thomas VAN GEMMEREN, Robert JOHNSON |
| Unité(s) de recherche(s) |
Laboratoire interdépartemental de spectroscopie électronique
Centre de recherches en physique de la matière et du rayonnement |
| Année | 1998 |
| Type | Articles de périodique |
| Langue | Anglais |
| Mots clés | |
| Résumé | |
| Codes bibliothèque | **RES. ACAD. |
| Versions électroniques |
Article de périodique
| Titre du périodique | Applied surface science |
| Sous-titre du périodique | |
| Editeur scientifique | |
| Volume | |
| Fascicule | 123/124 |
| Pages | 462 - 466 |
| Date de parution | 1998 |
| Facteur d'impact | |
| Nombre de citations |
