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Etude des contacts metal-GaN par profils de concentration XPS

Auteur(s) Jacques DUMONT
Unité(s) de recherche(s) Laboratoire interdépartemental de spectroscopie électronique
Centre de recherches en physique de la matière et du rayonnement
Année 1998
Type Mémoires
Langue Français
Editeur FUNDP, Faculté des Sciences. Département de Physique
Lieu d'édition Namur
Mots clés
Résumé
Codes bibliothèque *FM B3/1998/2
Versions électroniques

Mémoire & Thèse

Promoteur(s) Robert SPORKEN
Jury
Epreuve 2ème licence en sciences physiques
Année académique 1997-1998
Pages 74
Prix scientifique
Date de défense
Grade